Continuous-Time Sigma-Delta A/D Conversion Fundamentals, Performance Limits and Robust Implementations
Κύριος συγγραφέας: | Ortmanns, Maurits |
---|---|
Άλλοι συγγραφείς: | Gerfers, Friedel |
Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Berlin, Heidelberg
Springer Berlin Heidelberg
2006
|
Σειρά: | Springer Series in Advanced Microelectronics
21 |
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | http://dx.doi.org/10.1007/3-540-28473-7 |
Παρόμοια τεκμήρια
-
CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet Degradation Behavior and Damage Mechanisms
ανά: Li, Flora M.
Έκδοση: (2005) -
Bonding in Microsystem Technology
ανά: Dziuban, Jan A.
Έκδοση: (2006) -
Force Sensors for Microelectronic Packaging Applications
ανά: Schwizer, JΓΌrg
Έκδοση: (2005) -
Strain Effect in Semiconductors Theory and Device Applications
ανά: Sun, Yongke
Έκδοση: (2010) -
Moisture Sensitivity of Plastic Packages of IC Devices
ανά: Fan, X.J
Έκδοση: (2010)