Τεχνικές και κυκλώματα εμφώλευσης συνόλου δοκιμής για τον έλεγχο VLSI συστημάτων
Main Author: | Παπαδημητρίου, Αθανασία |
---|---|
Corporate Author: | Πανεπιστήμιο Πατρών Σχολή Επιστημών Υγείας Τμήμα Ιατρικής (Πολυτεχνική Σχολή, Τμήμα Μηχανικών Ηλεκτρονικών Υπολογιστών και Πληροφορικής) |
Format: | Book |
Language: | Greek |
Published: |
Πάτρα
[χ.ό.]
2009
|
Subjects: | |
Online Access: | http://nemertes.lis.upatras.gr/jspui/handle/10889/1689 |
Similar Items
-
Τεχνικές και κυκλώματα εμφώλευσης συνόλου δοκιμής για τον έλεγχο VLSI συστημάτων
by: Παπαδημητρίου, Αθανασία
Published: (2009) -
Test and design validity Proceedings. International Test Conference, october 20-25, 1996 Washington D.C. USA
Published: (1996) -
Software Testing Techniques
by: Beizer, Boris
Published: (1990) -
Design to Test A Definite Guide for Electronic Design, Manufacture, and Service
by: Turino, Jon
Published: (1990) -
Testability concepts for digital ICs The Macrotest approach
by: Beenker, F. P., et al.
Published: (1995)