Τεχνικές και κυκλώματα εμφώλευσης συνόλου δοκιμής για τον έλεγχο VLSI συστημάτων
| Κύριος συγγραφέας: | Παπαδημητρίου, Αθανασία |
|---|---|
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | Πανεπιστήμιο Πατρών Σχολή Επιστημών Υγείας Τμήμα Ιατρικής (Πολυτεχνική Σχολή, Τμήμα Μηχανικών Ηλεκτρονικών Υπολογιστών και Πληροφορικής) |
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | Greek |
| Έκδοση: |
Πάτρα
[χ.ό.]
2009
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | http://nemertes.lis.upatras.gr/jspui/handle/10889/1689 |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Τεχνικές και κυκλώματα εμφώλευσης συνόλου δοκιμής για τον έλεγχο VLSI συστημάτων
ανά: Παπαδημητρίου, Αθανασία
Έκδοση: (2009) -
Test and design validity Proceedings. International Test Conference, october 20-25, 1996 Washington D.C. USA
Έκδοση: (1996) -
Software Testing Techniques
ανά: Beizer, Boris
Έκδοση: (1990) -
Design to Test A Definite Guide for Electronic Design, Manufacture, and Service
ανά: Turino, Jon
Έκδοση: (1990) -
Testability concepts for digital ICs The Macrotest approach
ανά: Beenker, F. P., κ.ά.
Έκδοση: (1995)