Uncovering plagiarism, authorship and social software misuse - PAN'08 : proceedings, 22 July 2008, Patras Greece /

Bibliographic Details
Corporate Author: European Conference on Artificial Intelligence Patras, Greece
Other Authors: Stein, Benno (επιμελητής.), Σταματάτος, Ευστάθιος Σ. (επιμελητής.), Koppel, Moshe (επιμελητής.)
Format: Conference Proceeding Book
Language:English
Published: Patras : University of Patras, 2008.
Series:Workshop Proceedings (University of Patras)
Subjects:
Online Access:http://hdl.handle.net/10889/2655
Description
Physical Description:32 σ. : εικ. ; 30 εκ.
Bibliography:Περιλαμβάνει βιβλιογραφία.
ISBN:9789606843082