Advanced Test Methods for SRAMs Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Κύριος συγγραφέας: | Bosio, Alberto |
---|---|
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | SpringerLink (Online service) |
Άλλοι συγγραφείς: | Dilillo, Luigi, Girard, Patrick, Pravossoudovitch, Serge, Virazel, Arnaud |
Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Boston, MA
Springer-Verlag US
2010
|
Έκδοση: | 1 |
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0938-1 |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
ανά: Girard, Patrick
Έκδοση: (2010) -
Low Power Hardware Synthesis from Concurrent Action-Oriented Specifications
ανά: Singh, Gaurav
Έκδοση: (2010) -
Synthesis of Embedded Software Frameworks and Methodologies for Correctness by Construction
ανά: Shukla, Sandeep K
Έκδοση: (2010) -
Designing Embedded Systems with the SIGNAL Programming Language Synchronous, Reactive Specification
ανά: Gamatie, Abdoulaye
Έκδοση: (2010) -
VLSI Design for Video Coding H.264/AVC Encoding from Standard Specification to Chip
ανά: Lin, Youn-Long Steve
Έκδοση: (2010)