Advanced Test Methods for SRAMs Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

• Κύριος συγγραφέας: Bosio, Alberto
• Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
• Άλλοι συγγραφείς: Dilillo, Luigi, Girard, Patrick, Pravossoudovitch, Serge, Virazel, Arnaud
• Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: Boston, MA Springer-Verlag US 2010
• Έκδοση: 1
• Θέματα: Engineering; Computer aided design; Systems engineering; Circuits and Systems; Computer-Aided Engineering (CAD, CAE) and Design