Advanced Computing in Electron Microscopy

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Kirkland, Earl J
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Boston, MA Springer Science+Business Media, LLC 2010
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6533-2
LEADER 01021nom a2200289 u 4500
001 10090901
003 upatras
005 20210117202832.0
008 110802s2010 eng
020 |a 9781441965332 
040 |a GR-PaULI  |c GR-PaULI 
041 0 |a eng 
100 1 |a Kirkland, Earl J  |9 94874 
245 1 0 |a Advanced Computing in Electron Microscopy  |h [electronic resource]  |c by Earl J. Kirkland 
260 |a Boston, MA  |b Springer Science+Business Media, LLC  |c 2010 
300 |b v.: digital 
650 4 |a Computer engineering  |9 24296 
650 4 |a Surfaces (Physics)  |9 64420 
650 4 |a Materials Science  |9 64435 
650 4 |a Characterization and Evaluation of Materials  |9 64421 
650 4 |a Electrical Engineering  |9 15696 
710 2 |a SpringerLink (Online service)  |9 68735 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΒΚΠ 
856 4 0 |u http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6533-2 
942 |2 ddc 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |7 0  |9 98815  |a LISP  |b LISP  |d 2016-04-24  |l 0  |r 2016-04-24 00:00:00  |w 2016-04-24  |y ERS 
999 |c 66601  |d 66601