Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links
Κύριος συγγραφέας: | Hong, Dongwoo |
---|---|
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | SpringerLink (Online service) |
Άλλοι συγγραφείς: | Cheng, Kwang-Ting |
Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Dordrecht
Springer Science+Business Media B.V.
2010
|
Σειρά: | Lecture Notes in Electrical Engineering
51 |
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-3443-4 |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Quality-Driven SystemC Design
ανά: GroΓe, Daniel
Έκδοση: (2010) -
High-speed digital circuits /
ανά: Shoji, Masakazu, 1936-
Έκδοση: (1996) -
Introduction to ID̳D̳Q̳ testing /
ανά: Chakravarty, Sreejit
Έκδοση: (1997) -
Ψηφιακά ολοκληρωμένα κυκλώματα : μια σχεδιαστική προσέγγιση /
ανά: Rabaey, Jan M.
Έκδοση: (2006) -
Algorithms for synthesis and testing of asynchronous circuits
ανά: Lavagno, Luciano, κ.ά.
Έκδοση: (1993)