Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links
| Κύριος συγγραφέας: | Hong, Dongwoo |
|---|---|
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | SpringerLink (Online service) |
| Άλλοι συγγραφείς: | Cheng, Kwang-Ting |
| Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Dordrecht
Springer Science+Business Media B.V.
2010
|
| Σειρά: | Lecture Notes in Electrical Engineering
51 |
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-3443-4 |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Quality-Driven SystemC Design
ανά: GroΓe, Daniel
Έκδοση: (2010) -
High-speed digital circuits /
ανά: Shoji, Masakazu, 1936-
Έκδοση: (1996) -
Introduction to ID̳D̳Q̳ testing /
ανά: Chakravarty, Sreejit
Έκδοση: (1997) -
Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits /
ανά: Bushnell, Michael L. 1950-
Έκδοση: (2000) -
Ψηφιακά ολοκληρωμένα κυκλώματα : μια σχεδιαστική προσέγγιση /
ανά: Rabaey, Jan M.
Έκδοση: (2006)