Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Girard, Patrick
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
Άλλοι συγγραφείς: Nicolici, Nicola, Wen, Xiaoqing
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Boston, MA Springer-Verlag US 2010
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0928-2
LEADER 01169nom a2200325 u 4500
001 10093501
003 upatras
005 20210117203003.0
008 110802s2010 eng
020 |a 9781441909282 
040 |a GR-PaULI  |c GR-PaULI 
041 0 |a eng 
100 1 |a Girard, Patrick  |9 93593 
245 1 0 |a Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices  |h [electronic resource]  |c edited by Patrick Girard, Nicola Nicolici, Xiaoqing Wen 
260 |a Boston, MA  |b Springer-Verlag US  |c 2010 
300 |b v.: digital 
650 4 |a Engineering  |9 17712 
650 4 |a Computer aided design  |9 24299 
650 4 |a Systems engineering  |9 64844 
650 4 |a Engineering  |9 17712 
650 4 |a Circuits and Systems  |9 24301 
650 4 |a Computer-Aided Engineering (CAD, CAE) and Design  |9 64865 
700 1 |a Nicolici, Nicola  |9 99761 
700 1 |a Wen, Xiaoqing  |9 99762 
710 2 |a SpringerLink (Online service)  |9 68735 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΒΚΠ 
856 4 0 |u http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0928-2 
942 |2 ddc 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |7 0  |9 101415  |a LISP  |b LISP  |d 2016-04-24  |l 0  |r 2016-04-24 00:00:00  |w 2016-04-24  |y ERS 
999 |c 69201  |d 69201