Παραπομπή σε μορφή APA (7η εκδ.)

Breitenstein, O., Warta, W., & Langenkamp, M. (2010). Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials. Springer-Verlag Berlin Heidelberg.

Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)

Breitenstein, Otwin, Wilhelm Warta, και Martin Langenkamp. Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials. Berlin, Heidelberg: Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2010.

Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)

Breitenstein, Otwin, et al. Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials. Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2010.