Lock-in Thermography Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Breitenstein, Otwin
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
Άλλοι συγγραφείς: Warta, Wilhelm, Langenkamp, Martin
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Berlin, Heidelberg Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2010
Σειρά:Springer Series in Advanced Microelectronics 10
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-02417-7
LEADER 01472nom a2200385 u 4500
001 10093640
003 upatras
005 20210422092523.0
008 110802s2010 eng
020 |a 9783642024177 
040 |a GR-PaULI  |c GR-PaULI 
041 0 |a eng 
100 1 |a Breitenstein, Otwin  |9 99998 
245 1 0 |a Lock-in Thermography  |h [electronic resource]  |b Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials  |c by Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin Langenkamp 
260 |a Berlin, Heidelberg  |b Springer-Verlag Berlin Heidelberg  |c 2010 
300 |b v.: digital 
490 0 |a Springer Series in Advanced Microelectronics  |v 10  |x 1437-0387 
650 4 |a Physics  |9 20895 
650 4 |a Engineering  |9 17712 
650 4 |a Materials  |9 13218 
650 4 |a Surfaces (Physics)  |9 64420 
650 4 |a Physics  |9 20895 
650 4 |a Οπτική  |9 353 
650 4 |a Characterization and Evaluation of Materials  |9 64421 
650 4 |a Engineering, general  |9 64337 
650 4 |a Δομική μηχανική  |9 64858 
700 1 |a Warta, Wilhelm  |9 99999 
700 1 |a Langenkamp, Martin  |9 100000 
710 2 |a SpringerLink (Online service)  |9 68735 
760 1 |a Springer Series in Advanced Microelectronics  |g 10  |x 1437-0387 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΒΚΠ 
856 4 0 |u http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-02417-7 
942 |2 ddc 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |7 0  |9 101554  |a LISP  |b LISP  |d 2016-04-24  |l 0  |r 2016-04-24 00:00:00  |w 2016-04-24  |y ERS 
999 |c 69340  |d 69340