Lock-in Thermography Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
| Άλλοι συγγραφείς: | , |
| Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Berlin, Heidelberg
Springer-Verlag Berlin Heidelberg
2010
|
| Σειρά: | Springer Series in Advanced Microelectronics
10 |
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-02417-7 |
