Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits Mitigating Soft Errors and Process Variations

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Garg, Rajesh
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
Άλλοι συγγραφείς: Khatri, Sunil P
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Boston, MA Springer-Verlag US 2010
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0931-2