Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits Mitigating Soft Errors and Process Variations

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Garg, Rajesh
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
Άλλοι συγγραφείς: Khatri, Sunil P
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Boston, MA Springer-Verlag US 2010
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0931-2
LEADER 01136nom a2200313 u 4500
001 10093777
003 upatras
005 20210117203013.0
008 110802s2010 eng
020 |a 9781441909312 
040 |a GR-PaULI  |c GR-PaULI 
041 0 |a eng 
100 1 |a Garg, Rajesh  |9 95491 
245 1 0 |a Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits  |h [electronic resource]  |b Mitigating Soft Errors and Process Variations  |c by Rajesh Garg, Sunil P. Khatri 
260 |a Boston, MA  |b Springer-Verlag US  |c 2010 
300 |b v.: digital 
650 4 |a Engineering  |9 17712 
650 4 |a Computer aided design  |9 24299 
650 4 |a Systems engineering  |9 64844 
650 4 |a Engineering  |9 17712 
650 4 |a Circuits and Systems  |9 24301 
650 4 |a Computer-Aided Engineering (CAD, CAE) and Design  |9 64865 
700 1 |a Khatri, Sunil P  |9 94467 
710 2 |a SpringerLink (Online service)  |9 68735 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΒΚΠ 
856 4 0 |u http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0931-2 
942 |2 ddc 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |7 0  |9 101691  |a LISP  |b LISP  |d 2016-04-24  |l 0  |r 2016-04-24 00:00:00  |w 2016-04-24  |y ERS 
999 |c 69477  |d 69477