Singhee, A., & Rutenbar, R. A. (2010). Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design (1.). Springer Science+Business Media LLC.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Singhee, Amith, και Rob A. Rutenbar. Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design. 1. Boston, MA: Springer Science+Business Media LLC, 2010.
Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)Singhee, Amith, και Rob A. Rutenbar. Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design. 1. Springer Science+Business Media LLC, 2010.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.