Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design
Κύριος συγγραφέας: | Singhee, Amith |
---|---|
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | SpringerLink (Online service) |
Άλλοι συγγραφείς: | Rutenbar, Rob A |
Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Boston, MA
Springer Science+Business Media LLC
2010
|
Έκδοση: | 1 |
Σειρά: | Integrated Circuits and Systems
|
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6606-3 |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Statistical Analysis and Optimization for VLSI: Timing and Power
ανά: Srivastava, Ashish
Έκδοση: (2005) -
ESD Design for Analog Circuits
ανά: Vashchenko, Vladislav A
Έκδοση: (2010) -
Data Mining and Diagnosing IC Fails
ανά: Huisman, Leendert M.
Έκδοση: (2005) -
VLSI-Design of Non-Volatile Memories
ανά: Campardo, Giovanni
Έκδοση: (2005) -
Sensors and Low Power Signal Processing
ανά: Kamrul Islam, Syed
Έκδοση: (2010)