Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Singhee, Amith
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
Άλλοι συγγραφείς: Rutenbar, Rob A
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Boston, MA Springer Science+Business Media LLC 2010
Έκδοση:1
Σειρά:Integrated Circuits and Systems
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6606-3
Search Result 1
Έκδοση 2010
Full Text via HEAL-Link
Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο