Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy Techniques
| Κύριος συγγραφέας: | Ayache, Jeanne |
|---|---|
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | SpringerLink (Online service) |
| Άλλοι συγγραφείς: | Beaunier, Luc, Boumendil, Jacqueline, Ehret, Gabrielle, Laub, DaniΓ¨le |
| Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
New York, NY
Springer Science+Business Media, LLC
2010
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-5975-1 |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy Methodology
ανά: Ayache, Jeanne
Έκδοση: (2010) -
Scanning Probe Microscopy Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale
ανά: Kalinin, Sergei
Έκδοση: (2007) -
Physical Principles of Electron Microscopy An Introduction to TEM, SEM, and AEM
ανά: Egerton, Ray F.
Έκδοση: (2005) -
Scanning Probe Microscopy Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
ανά: Foster, Adam
Έκδοση: (2006) -
Rapid Production of Micro- and Nano-particles Using Supercritical Water
ανά: Fang, Zhen
Έκδοση: (2010)