Testing and reliable design of CMOS circuits /

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Jha, Niraj K. (συγγραφέας)
Άλλοι συγγραφείς: Kundu, Sandip (συγγραφέας)
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Boston : Kluwer Academic Publishers, 1990.
Σειρά:The Kluwer international series in engineering and computer science SECS 88
Θέματα:
Περιγραφή
Φυσική περιγραφή:xii, 231 σ. : εικ. ; 24 εκ.
Βιβλιογραφία:Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές.