Testing and reliable design of CMOS circuits /

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Jha, Niraj K. (συγγραφέας)
Άλλοι συγγραφείς: Kundu, Sandip (συγγραφέας)
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Boston : Kluwer Academic Publishers, 1990.
Σειρά:The Kluwer international series in engineering and computer science SECS 88
Θέματα:
LEADER 01615nam a2200277 u 4500
001 10002851
003 upatras
005 20210906112839.0
008 881025s1990 us eng
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 621_397000000000000_32_JHA  |7 0  |9 115532  |a LISP  |b LISP  |c BSC  |d 2016-04-24  |i 12500  |l 0  |o 621.397 32 JHA  |p 025000093669  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 1  |w 2016-04-24  |y BK15 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 621_397000000000000_32_JHA  |7 0  |8 NFIC  |9 128126  |a LISP  |b LISP  |c ALFe  |d 2016-04-24  |l 0  |o 621.397 32 JHA  |p 025000281278  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 1  |w 2016-04-24  |y BK15  |x Μεταφορά από Τμ. Μηχανικών ΗΥ & Πληροφορικής 
999 |c 77152  |d 77152 
040 |a GR-PaULI  |c GR-PaULI 
082 0 4 |a 621.397 32 
100 1 |a Jha, Niraj K.  |9 109504  |e συγγραφέας 
245 1 0 |a Testing and reliable design of CMOS circuits /  |c by Niraj K. Jha and Sandip Kundu. 
260 |a Boston :  |b Kluwer Academic Publishers,  |c 1990. 
300 |a xii, 231 σ. :  |b εικ. ;  |c 24 εκ. 
490 0 |a The Kluwer international series in engineering and computer science  |v SECS 88 
504 |a Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές. 
650 4 |a Ημιαγωγοί  |9 722 
650 4 |a Ολοκληρωμένα κυκλώματα   |9 128203  |x Ολοκλήρωση πολύ μεγάλης κλίμακας  |x Σχέδιο και κατασκευή. 
700 1 |a Kundu, Sandip  |9 109505  |e συγγραφέας 
760 1 |a The Kluwer international series in engineering and computer science 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΒΚΠ  |b ΒΣ1  |k ΑΣΧΞ  |h 621.397 32 JHA  |m 12500  |p 025000093669  |t 1 
942 |2 ddc  |c BK15