|
|
|
|
LEADER |
01082nam a22002653u 4500 |
001 |
10100822 |
003 |
upatras |
005 |
20210223181751.0 |
008 |
991022s eng |
020 |
|
|
|a 0 471 85135 3
|
040 |
|
|
|a Βιβλιοθήκη ΕΑΙΤΥ
|c Βιβλιοθήκη ΕΑΙΤΥ
|
041 |
0 |
|
|a eng
|
245 |
1 |
0 |
|a Digital test engineering
|
260 |
|
|
|a New York
|b John Wiley & Sons
|c c1987
|
300 |
|
|
|a xiv,337p.
|b fig.
|
500 |
|
|
|a περιέχει βιβλιογραφικές αναφορές
|
650 |
|
4 |
|a ELECTRONIC APPARATUS
|x TESTING
|9 113593
|
650 |
|
4 |
|a Ηλεκτρονικά
|9 15695
|
650 |
|
4 |
|a VLSI
|9 24366
|
650 |
|
4 |
|a Ηλεκτρονική
|9 42793
|
700 |
1 |
|
|a Cortner, J. M.
|4 aut
|9 113594
|
852 |
|
|
|a GR-PaULI
|b ΠΑΤΡΑ
|b ΤΜΗΥΠ
|h 621.381 548 COR
|t 1
|
942 |
|
|
|2 ddc
|
952 |
|
|
|0 0
|1 0
|2 ddc
|4 0
|6 621_381000000000000_548_COR
|7 0
|8 NFIC
|9 122975
|a LISP
|b LISP
|c ALFf
|d 2016-04-24
|l 0
|o 621.381 548 COR
|p 025000281794
|r 2016-04-24 00:00:00
|t 1
|w 2016-04-24
|y BK15
|x Μεταφορά από Τμ. Μηχανικών ΗΥ & Πληροφορικής
|
999 |
|
|
|c 80958
|d 80958
|