Digital test engineering

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Cortner, J. M. (Συγγραφέας)
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: New York John Wiley & Sons c1987
Θέματα:
LEADER 01082nam a22002653u 4500
001 10100822
003 upatras
005 20210223181751.0
008 991022s eng
020 |a 0 471 85135 3 
040 |a Βιβλιοθήκη ΕΑΙΤΥ  |c Βιβλιοθήκη ΕΑΙΤΥ 
041 0 |a eng 
245 1 0 |a Digital test engineering 
260 |a New York  |b John Wiley & Sons  |c c1987 
300 |a xiv,337p.  |b fig. 
500 |a περιέχει βιβλιογραφικές αναφορές 
650 4 |a ELECTRONIC APPARATUS  |x TESTING  |9 113593 
650 4 |a Ηλεκτρονικά   |9 15695 
650 4 |a VLSI  |9 24366 
650 4 |a Ηλεκτρονική  |9 42793 
700 1 |a Cortner, J. M.  |4 aut  |9 113594 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΤΜΗΥΠ  |h 621.381 548 COR  |t 1 
942 |2 ddc 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 621_381000000000000_548_COR  |7 0  |8 NFIC  |9 122975  |a LISP  |b LISP  |c ALFf  |d 2016-04-24  |l 0  |o 621.381 548 COR  |p 025000281794  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 1  |w 2016-04-24  |y BK15  |x Μεταφορά από Τμ. Μηχανικών ΗΥ & Πληροφορικής 
999 |c 80958  |d 80958