Logic Testing and Design for Testability

• Κύριος συγγραφέας: Fujiwara, Hideo (Συγγραφέας)
• Μορφή: Βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: Cambridge Mass. Massachusetts Institute of Technology Cambridge Mass. c1985
• Σειρά: MIT Press Series in Computer Systems
• Θέματα: INTEGRATED CIRCUITS; VLSI
• Περιγραφή τεκμηρίου: Βιβλιογραφία: σσ.272-278
• Φυσική περιγραφή: x, 284p. fig.
• ISBN: 0 262 06096 5