Logic Testing and Design for Testability
| Κύριος συγγραφέας: | Fujiwara, Hideo (Συγγραφέας) |
|---|---|
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Cambridge Mass.
Massachusetts Institute of Technology Cambridge Mass.
c1985
|
| Σειρά: | MIT Press Series in Computer Systems
|
| Θέματα: |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Digital circuit testing and testability
Έκδοση: (1997) -
Built-in test for VLSI: preudorandom techniques
ανά: Bardell, Paul H., κ.ά.
Έκδοση: (1987) -
Logic Minimization Algorithms for VLSI Synthesis
ανά: Brayton, Robert K., κ.ά.
Έκδοση: (1984) -
Design of VLSI Systems A Practical Introduction
ανά: Brackenbury, Linda E.
Έκδοση: (1987) -
VLSI circuit layout: theory and design
Έκδοση: (1985)