Assesing fault model and test quality

• Κύριος συγγραφέας: Butler, Kenneth M.
• Άλλοι συγγραφείς: Mercer, M. Ray
• Μορφή: Βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: Boston Kluwer Academic Publishers 1992
• Σειρά: Kluwer international series in engineering and computer science 257
• Θέματα: Ηλεκτρονικά κυκλώματα; Ψηφιακά κυκλώματα; Ψηφιακά ηλεκτρονικά
• Φυσική περιγραφή: xviii, 132 p. fig. 24 cm
• ISBN: 0792392221