Boundary-scan test a practical approach
Κύριοι συγγραφείς: | Bleeker, Harry (Συγγραφέας), De Jong, Frans (Συγγραφέας), Van De Eijnden, Peter (Συγγραφέας) |
---|---|
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Dordrecht
KLuwer Academic Publishers
1993
|
Θέματα: |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Assesing fault model and test quality
ανά: Butler, Kenneth M.
Έκδοση: (1992) -
Electronics a systems approach
ανά: Storey, Neil
Έκδοση: (1992) -
Electronic techniques shop practices and construction
ανά: Villanucci, Robert S.
Έκδοση: (1996) -
Οδηγοί - ενισχυταί P-I-N μικροκυματικών διόδων δια ραντάρ μετατοπιστών φάσεως υψηλής ισχύος
ανά: Γεωργόπουλος, Χρήστος Ι.
Έκδοση: (1975) -
Synthesis and optimization of digital circuits
ανά: De Micheli, Giovanni
Έκδοση: (1994)