Boundary-scan test a practical approach
Κύριοι συγγραφείς: | Bleeker, Harry (Συγγραφέας), De Jong, Frans (Συγγραφέας), Van De Eijnden, Peter (Συγγραφέας) |
---|---|
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Dordrecht
KLuwer Academic Publishers
1993
|
Θέματα: |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Assesing fault model and test quality
ανά: Butler, Kenneth M.
Έκδοση: (1992) -
Electronics a systems approach
ανά: Storey, Neil
Έκδοση: (1992) -
Directory of electronic circuits : with a glossary of terms /
ανά: Mandl, Matthew
Έκδοση: (1966) -
Multicomponent and multilayered thin films for advanced microtechnologies : techniques, fundamentals, and devices /
Έκδοση: (1993) -
The British Army of 1914 : its history, uniforms & contemporary continental armies /
ανά: Barnes, R. Money, 1897- (Robert Money)
Έκδοση: (1968)