Statistical analysis with ArcView GIS /

• Main Author: Lee, Jay (συγγραφέας.)
• Other Authors: Wong, David W. S. (συγγραφέας.)
• Format: Book
• Language: English
• Published: New York : John Wiley and Sons, c2001.
• Subjects: Γεωγραφικά συστήματα πληροφοριών
• Physical Description: xi, 192 σ. ; εικ., πιν. ; 25 εκ.
• ISBN: 0471348740