Measurement and modeling of computer systems (1987) Proceedings of the 1987 ACM SIGMETRICS Conference Banff, Alberta, Canada May 11-14, 1987 ACM/SIGMETRICS (Vol.15, No.1, May 1987 Special issue)

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: New York Association for Computing Machinery c1987
Θέματα:
LEADER 01200nam a22002893u 4500
001 10102319
003 upatras
005 20210419151802.0
008 991022s eng
020 |a 089791225x 
040 |a Βιβλιοθήκη ΕΑΙΤΥ  |c Βιβλιοθήκη ΕΑΙΤΥ 
041 0 |a eng 
245 1 0 |a Measurement and modeling of computer systems (1987)  |b Proceedings of the 1987 ACM SIGMETRICS Conference Banff, Alberta, Canada May 11-14, 1987 ACM/SIGMETRICS (Vol.15, No.1, May 1987 Special issue) 
260 |a New York  |b Association for Computing Machinery  |c c1987 
300 |a viii, 267p.  |b fig. 
500 |a περιέχει βιβλιογραφία 
650 4 |a ACM  |9 24250 
650 4 |a COMPUTER MODELING  |9 113416 
650 4 |a COMPUTER SYSTEMS  |9 24270 
650 4 |a Αξιολόγηση  |9 124332 
650 4 |a PROCEEDINGS  |9 24278 
650 4 |a Υπολογιστικά συστήματα  |9 113417 
650 4 |a ΠΡΑΚΤΙΚΑ ΣΥΝΕΔΡΙΩΝ  |9 113060 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΤΜΗΥΠ  |h 003.3  |t 1 
942 |2 ddc 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 003_300000000000000  |7 0  |9 127993  |a CEID  |b CEID  |d 2016-04-24  |l 0  |o 003.3  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 1  |w 2016-04-24 
999 |c 83883  |d 83883