Design to Test A Definite Guide for Electronic Design, Manufacture, and Service
Κύριος συγγραφέας: | Turino, Jon (Συγγραφέας) |
---|---|
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
New York
van Nostrand Reinhold Co Ltd
c1990
|
Έκδοση: | 2nd ed. |
Θέματα: |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Random Testing of Digital Circuits Theory and Applications
ανά: David, Rene
Έκδοση: (1998) -
Test Economis and design for testability for electronic circuits and systems
ανά: Ambler, A. P., κ.ά.
Έκδοση: (1995) -
Test and design validity Proceedings. International Test Conference, october 20-25, 1996 Washington D.C. USA
Έκδοση: (1996) -
Integration of test with design and manufacturing International test conference proceedings 1987 Washington DC, september 1,2,3 1987
Έκδοση: (1987) -
Software Testing Techniques
ανά: Beizer, Boris
Έκδοση: (1990)