Design to Test A Definite Guide for Electronic Design, Manufacture, and Service

Design to Test A Definite Guide for Electronic Design, Manufacture, and Service

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας:	Turino, Jon (Συγγραφέας)
Μορφή:	Βιβλίο
Γλώσσα:	English
Έκδοση:	New York van Nostrand Reinhold Co Ltd c1990
Έκδοση:	2nd ed.
Θέματα:	INTEGRATED CIRCUITS Δοκιμές

Παρόμοια τεκμήρια

Random Testing of Digital Circuits Theory and Applications
ανά: David, Rene
Έκδοση: (1998)

Test and design validity Proceedings. International Test Conference, october 20-25, 1996 Washington D.C. USA
Έκδοση: (1996)

Logic Testing and Design for Testability
ανά: Fujiwara, Hideo
Έκδοση: (1985)

Analysis and Design of Analog Integrated Circuits
ανά: Gray, Paul R., κ.ά.
Έκδοση: (1977)

Bipolar and MOS analog integrated circuit design
ανά: Grebene, Alan B.
Έκδοση: (1984)

Test Economis and design for testability for electronic circuits and systems
ανά: Ambler, A. P., κ.ά.
Έκδοση: (1995)

Τεχνικές και κυκλώματα εμφώλευσης συνόλου δοκιμής για τον έλεγχο VLSI συστημάτων
ανά: Παπαδημητρίου, Αθανασία
Έκδοση: (2009)

Integrated injection logic
Έκδοση: (1980)

Integrated Circuits Technology and applications
ανά: Mazda, F. F.
Έκδοση: (1978)

Analog MOS Integrated Circuits, II
Έκδοση: (1989)

Software Testing Techniques
ανά: Beizer, Boris
Έκδοση: (1990)

Built-in test for VLSI: preudorandom techniques
ανά: Bardell, Paul H., κ.ά.
Έκδοση: (1987)

Design of VLSI Systems A Practical Introduction
ανά: Brackenbury, Linda E.
Έκδοση: (1987)

VLSI circuit layout: theory and design
Έκδοση: (1985)

VLSI design techniques for analog and digital circuits
ανά: Allen, Phillip E., κ.ά.
Έκδοση: (1990)

Digital circuit testing and testability
Έκδοση: (1997)

Analysis and design of digital integrated circuits
ανά: Jackson, Horace G., κ.ά.
Έκδοση: (1988)

Integration of test with design and manufacturing International test conference proceedings 1987 Washington DC, september 1,2,3 1987
Έκδοση: (1987)

Integrated Circuits A user's handbook
ανά: Cirovic, Michael M.
Έκδοση: (1977)

A VLSI Architecture for Concurrent Data Structures
ανά: Dally, William J.
Έκδοση: (1987)

Designing with TTL integrated circuits
Έκδοση: (1987)

High-Level Test synthesis of digial VLSI Circuits
ανά: Tien-Chien Lee, Mike
Έκδοση: (1997)

Integrated circuit engineering Design, Fabrication, and applications
ανά: Glaser, Arthur B., κ.ά.
Έκδοση: (1977)

Digital MOS integrated circuits
Έκδοση: (1981)

Logic Minimization Algorithms for VLSI Synthesis
ανά: Brayton, Robert K., κ.ά.
Έκδοση: (1984)

Introduction to VLSI Silicon Devices Physics, Technology and Characterization
ανά: Bombard, Richard J., κ.ά.
Έκδοση: (1986)

Area-Efficient VLSI Computation
ανά: Leiserson, Charles E.
Έκδοση: (1983)

VLSI Technology
Έκδοση: (1988)

Digital VLSI Systems
Έκδοση: (1985)

VLSI Specification, Verification and Synthesis
Έκδοση: (1988)

Testings impact on design and technology International test conference proceedings 1986 Washington DC, september 8,9,10,11,1986
Έκδοση: (1986)

An artificial intelligence approach to test generation
ανά: Singh, Narinder
Έκδοση: (1987)

Digital integrated circuits A design prspective
ανά: Rabaey, Jan M.
Έκδοση: (1996)

Design of VLSI gate array ICs
ανά: Hollis, Ernest E.
Έκδοση: (1987)

Design Systems for VLSI Circuits Logic Synthesis and Silicon Compilation
Έκδοση: (1987)

International Test Conference Proceedings, 1995
Έκδοση: (1995)

The changing philosophy of test International test conference proceedings 1990 Washington, DC, September 10-14, 1990
Έκδοση: (1990)

New frontiers in testing International test conference proceedings 1988 Washington,DC september 12,13,14 1988
Έκδοση: (1988)

Meeting the Tests of Time Proceedings of the International Test Conference 1989 August 29-31,1989, Washington, D.C.
Έκδοση: (1989)

Testability concepts for digital ICs The Macrotest approach
ανά: Beenker, F. P., κ.ά.
Έκδοση: (1995)

Βιβλιοθήκη & Κέντρο Πληροφόρησης | Πανεπιστήμιο Πατρών