Digital systems testing and testable design /

• Κύριος συγγραφέας: Abramovici, Miron (συγγραφέας)
• Άλλοι συγγραφείς: Breuer, Melvin A., Friedman, Arthur
• Μορφή: Βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: New York : IEEE, c1990.
• Έκδοση: Rev. print.
• Θέματα: Ψηφιακά ηλεκτρονικά
• Φυσική περιγραφή: 651 σ. : εικ. ; 23 εκ.
• ISBN: 0780310624