Digital systems testing and testable design /

• Κύριος συγγραφέας: Abramovici, Miron (συγγραφέας)
• Άλλοι συγγραφείς: Breuer, Melvin A., Friedman, Arthur
• Μορφή: Βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: New York : IEEE, c1990.
• Έκδοση: Rev. print.
• Θέματα: Ψηφιακά ηλεκτρονικά

Πίνακας περιεχομένων:

• Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.