Software testing and analysis (ISSTA) Proceedings of the International Symposium. Cambridge, Massachusetts, USA, 28-30 June, 1993 ACM/SIGSOFT Vol.18, No 3, July 1993

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς: Ostrand, Thomas (Επιμελητής έκδοσης), Weyuker, Elaine (Επιμελητής έκδοσης)
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: New York Association for Computing Machinery 0 89791 608 5
Θέματα:
LEADER 01246nam a22002893u 4500
001 10103421
003 upatras
005 20210426115800.0
008 991022s eng
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 005_100000000000000  |7 0  |9 131368  |a CEID  |b CEID  |d 2016-04-24  |l 0  |o 005.1  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 1  |w 2016-04-24 
999 |c 86038  |d 86038 
040 |a Βιβλιοθήκη ΕΑΙΤΥ  |c Βιβλιοθήκη ΕΑΙΤΥ 
041 0 |a eng 
245 1 0 |a Software testing and analysis (ISSTA)  |b Proceedings of the International Symposium. Cambridge, Massachusetts, USA, 28-30 June, 1993 ACM/SIGSOFT Vol.18, No 3, July 1993 
260 |a New York  |b Association for Computing Machinery  |c 0 89791 608 5 
300 |a vi, 193p.  |b fig. 
500 |a περιέχει βιβλιογραφικές αναφορές 
650 4 |a ACM  |9 24250 
650 4 |a PROCEEDINGS  |9 24278 
650 4 |a Ηλεκτρονικοί υπολογιστές   |x Συνέδρια  |9 116862 
650 4 |a SOFTWARE ENGINEERING  |9 24315 
650 4 |a Δοκιμές  |9 117099 
650 4 |a ΠΡΑΚΤΙΚΑ ΣΥΝΕΔΡΙΩΝ  |9 113060 
700 1 |a Ostrand, Thomas  |4 edt  |9 119515 
700 1 |a Weyuker, Elaine  |4 edt  |9 119516 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΤΜΗΥΠ  |h 005.1  |t 1 
942 |2 ddc  |c BK15