A new method to design a class of self-testing embedded circuits [Technical Report] CTI TR.95.10.35

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Nikolos, Dimitris (Συγγραφέας)
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Patras Greece Computer Technology Institute 1995
Θέματα:
Περιγραφή
Η περιγραφή δεν είναι διαθέσιμη