A new method to design a class of self-testing embedded circuits [Technical Report] CTI TR.95.10.35
Κύριος συγγραφέας: | |
---|---|
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Patras Greece
Computer Technology Institute
1995
|
Θέματα: |
Η περιγραφή δεν είναι διαθέσιμη |