A new method to design a class of self-testing embedded circuits [Technical Report] CTI TR.95.10.35

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας:	Nikolos, Dimitris (Συγγραφέας)
Μορφή:	Βιβλίο
Γλώσσα:	English
Έκδοση:	Patras Greece Computer Technology Institute 1995
Θέματα:	CTI TR 1995 TECHNICAL REPORT ΤΕΧΝΙΚΗ ΑΝΑΦΟΡΑ


LEADER	00810nam a22002173u 4500
001	10104919
003	upatras
005	20210117204126.0
008	991022s1995 eng
040			\|a Βιβλιοθήκη ΕΑΙΤΥ \|c Βιβλιοθήκη ΕΑΙΤΥ
041	0		\|a eng
245	1	0	\|a A new method to design a class of self-testing embedded circuits [Technical Report] CTI TR.95.10.35
260			\|a Patras \|a Greece \|b Computer Technology Institute \|c 1995
650		4	\|a CTI TR 1995 \|9 123043
650		4	\|a TECHNICAL REPORT \|9 117806
650		4	\|a ΤΕΧΝΙΚΗ ΑΝΑΦΟΡΑ \|9 117807
700	1		\|a Nikolos, Dimitris \|4 aut \|9 123166
852			\|a GR-PaULI \|b ΠΑΤΡΑ \|b ΤΜΗΥΠ \|t 1
942			\|2 ddc
952			\|0 0 \|1 0 \|4 0 \|7 0 \|9 135861 \|a CEID \|b CEID \|d 2016-04-24 \|l 0 \|r 2016-04-24 00:00:00 \|t 1 \|w 2016-04-24
999			\|c 88967 \|d 88967

Παρόμοια τεκμήρια