Introduction to ID̳D̳Q̳ testing /
| Κύριος συγγραφέας: | Chakravarty, Sreejit (συγγραφέας.) |
|---|---|
| Άλλοι συγγραφείς: | Thadikaran, Paul J. (συγγραφέας.) |
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Boston :
Kluwer Academic Publishers,
c1997.
|
| Σειρά: | Frontiers in electronic testing
|
| Θέματα: |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits /
ανά: Bushnell, Michael L. 1950-
Έκδοση: (2000) -
Ψηφιακά ολοκληρωμένα κυκλώματα : μια σχεδιαστική προσέγγιση /
ανά: Rabaey, Jan M.
Έκδοση: (2006) -
Algorithms for synthesis and testing of asynchronous circuits
ανά: Lavagno, Luciano, κ.ά.
Έκδοση: (1993) -
High-speed digital circuits /
ανά: Shoji, Masakazu, 1936-
Έκδοση: (1996) -
Ανάλυση και σχεδίαση ψηφιακών ολοκληρωμένων κυκλωμάτων CMOS /
ανά: Kang, Sung Mo, 1945-
Έκδοση: (2016)