Παραπομπή σε μορφή APA (7η εκδ.)

Sachdev, M. (1998). Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits. Kluwer Academic Publishers.

Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)

Sachdev, Manoj. Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits. Boston: Kluwer Academic Publishers, 1998.

Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)

Sachdev, Manoj. Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits. Kluwer Academic Publishers, 1998.