Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits

• Κύριος συγγραφέας: Sachdev, Manoj (Συγγραφέας)
• Μορφή: Βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: Boston Kluwer Academic Publishers c1998
• Σειρά: Frontiers in Electronic Testing / Vishwani D. Agrawal
• Θέματα: Αναλογικά ολοκληρωμένα κυκλώματα; CIRCUIT DESIGN; CMOS; DIGITAL CIRCUITS; ΕΠΕΑΕΚ