Burn-in testing Its quantitatification and optimization
Κύριοι συγγραφείς: | Kececioglu, Dimitri (Συγγραφέας), Sun, Feng-Bin (Συγγραφέας) |
---|---|
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Uper Saddle River N.J.
Prentice Hall
c1997
|
Θέματα: |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Electron beam testing technology
Έκδοση: (1993) -
Multichip module design,fabrication, and testing
ανά: Licari, James J.
Έκδοση: (1995) -
Test Economis and design for testability for electronic circuits and systems
ανά: Ambler, A. P., κ.ά.
Έκδοση: (1995) -
How to Build a Digital Library
ανά: Witten, I. H. (Ian H.), κ.ά.
Έκδοση: (2003) -
Advanced Techniques for embedded systems design adn test
Έκδοση: (1998)