Sixth Asian Test Symposium (ATS'97) Procedings November 17-19,1997 Akita, Japan

Bibliographic Details
Format: Book
Language:English
Published: Los Alamitos IEEE Computer Society Press c1997
Subjects:
Description
Item Description:Περιέχει βιβλιογραφικές αναφορές
Physical Description:xv,417p. fig.
ISBN:0 8186 8209 4