Random Testing of Digital Circuits Theory and Applications

• Κύριος συγγραφέας: David, Rene (Συγγραφέας)
• Μορφή: Βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: New York Marcel Dekker Inc. c1998
• Θέματα: DIGITAL INTEGRATED CIRCUITS; INTEGRATED CIRCUITS; Δοκιμές; ΕΠΕΑΕΚ
• Φυσική περιγραφή: xvii,475p. fig.
• ISBN: 0 8247 0182 8