Random Testing of Digital Circuits Theory and Applications

Bibliographic Details
Main Author: David, Rene (Author)
Format: Book
Language:English
Published: New York Marcel Dekker Inc. c1998
Subjects:
LEADER 01053nam a22002653u 4500
001 10105362
003 upatras
005 20210426115800.0
008 991022s eng
020 |a 0 8247 0182 8 
040 |a Βιβλιοθήκη ΕΑΙΤΥ  |c Βιβλιοθήκη ΕΑΙΤΥ 
041 0 |a eng 
082 0 4 |a 621.381 5 
245 1 0 |a Random Testing of Digital Circuits  |b Theory and Applications 
260 |a New York  |b Marcel Dekker Inc.  |c c1998 
300 |a xvii,475p.  |b fig. 
650 4 |a DIGITAL INTEGRATED CIRCUITS  |9 124354 
650 4 |a INTEGRATED CIRCUITS  |9 24300 
650 4 |a Δοκιμές  |9 117099 
650 4 |a ΕΠΕΑΕΚ  |9 116438 
700 1 |a David, Rene  |4 aut  |9 124355 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΤΜΗΥΠ  |h 621.381 5 DAV  |t 1 
942 |2 ddc 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 621_381000000000000_5_DAV  |7 0  |8 NFIC  |9 137189  |a LISP  |b LISP  |c ALFf  |d 2016-04-24  |l 0  |o 621.381 5 DAV  |p 025000283382  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 1  |w 2016-04-24  |y BK15  |x Μεταφορά από Τμ. Μηχανικών ΗΥ & Πληροφορικής 
999 |c 89826  |d 89826