Random Testing of Digital Circuits Theory and Applications
Κύριος συγγραφέας: | David, Rene (Συγγραφέας) |
---|---|
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
New York
Marcel Dekker Inc.
c1998
|
Θέματα: |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Digital circuit testing and testability
Έκδοση: (1997) -
Design to Test A Definite Guide for Electronic Design, Manufacture, and Service
ανά: Turino, Jon
Έκδοση: (1990) -
Test Economis and design for testability for electronic circuits and systems
ανά: Ambler, A. P., κ.ά.
Έκδοση: (1995) -
Digital integrated circuits A design prspective
ανά: Rabaey, Jan M.
Έκδοση: (1996) -
High-Level Test synthesis of digial VLSI Circuits
ανά: Tien-Chien Lee, Mike
Έκδοση: (1997)