Random Testing of Digital Circuits Theory and Applications

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: David, Rene (Συγγραφέας)
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: New York Marcel Dekker Inc. c1998
Θέματα:

Παρόμοια τεκμήρια