IDDQ testing of VLSI circuits /

• Άλλοι συγγραφείς: Gulati, Ravi K. (επιμελητής), Hawkins, Charles F. (επιμελητής)
• Μορφή: Βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: Boston : Kluwer Academic Publishers, 1997, c1993.
• Έκδοση: 5th print.
• Σειρά: Frontiers in electronic testing
• Θέματα: Ολοκληρωμένα κυκλώματα > Ολοκλήρωση πολύ μεγάλης κλίμακας
• Περιγραφή τεκμηρίου: "A Special issue of Journal of electronic testing: theory and applications."; "Reprinted from Journal of electronic testing: theory and applications, vol. 3, no. 4."; Το DDQ είναι σε μορφή δείκτη στο IDDQ του τίτλου.
• Φυσική περιγραφή: 170 σ. : εικ. ; 27 εκ.
• Βιβλιογραφία: Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.
• ISBN: 0792393155