IDDQ testing of VLSI circuits /

• Other Authors: Gulati, Ravi K. (επιμελητής), Hawkins, Charles F. (επιμελητής)
• Format: Book
• Language: English
• Published: Boston : Kluwer Academic Publishers, 1997, c1993.
• Edition: 5th print.
• Series: Frontiers in electronic testing
• Subjects: Ολοκληρωμένα κυκλώματα > Ολοκλήρωση πολύ μεγάλης κλίμακας
• Item Description: "A Special issue of Journal of electronic testing: theory and applications."; "Reprinted from Journal of electronic testing: theory and applications, vol. 3, no. 4."; Το DDQ είναι σε μορφή δείκτη στο IDDQ του τίτλου.
• Physical Description: 170 σ. : εικ. ; 27 εκ.
• Bibliography: Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.
• ISBN: 0792393155