|
|
|
|
| LEADER |
01613cam a22003013u 4500 |
| 001 |
10105378 |
| 003 |
upatras |
| 005 |
20210910113625.0 |
| 008 |
991022r19971993maua eng |
| 952 |
|
|
|0 0
|1 0
|2 ddc
|4 0
|6 621_395000000000000_IDD
|7 0
|8 NFIC
|9 137224
|a LISP
|b LISP
|c ALFe
|d 2016-04-24
|l 0
|o 621.395 IDD
|p 025000282246
|r 2016-04-24 00:00:00
|t 1
|w 2016-04-24
|y BK15
|x Μεταφορά από Τμ. Μηχανικών ΗΥ & Πληροφορικής
|
| 999 |
|
|
|c 89857
|d 89857
|
| 020 |
|
|
|a 0792393155
|
| 040 |
|
|
|a Βιβλιοθήκη ΕΑΙΤΥ
|c Βιβλιοθήκη ΕΑΙΤΥ
|
| 082 |
|
|
|a 621.39/5
|
| 245 |
0 |
0 |
|a IDDQ testing of VLSI circuits /
|c edited by Ravi K. Gulati and Charles F. Hawkins.
|
| 250 |
|
|
|a 5th print.
|
| 260 |
|
|
|a Boston :
|b Kluwer Academic Publishers,
|c 1997, c1993.
|
| 300 |
|
|
|a 170 σ. :
|b εικ. ;
|c 27 εκ.
|
| 490 |
0 |
|
|a Frontiers in electronic testing
|
| 500 |
|
|
|a "A Special issue of Journal of electronic testing: theory and applications."
|
| 500 |
|
|
|a "Reprinted from Journal of electronic testing: theory and applications, vol. 3, no. 4."
|
| 500 |
|
|
|a Το DDQ είναι σε μορφή δείκτη στο IDDQ του τίτλου.
|
| 504 |
|
|
|a Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.
|
| 650 |
|
4 |
|a Ολοκληρωμένα κυκλώματα
|9 35013
|x Ολοκλήρωση πολύ μεγάλης κλίμακας
|
| 700 |
1 |
|
|a Gulati, Ravi K.
|9 124397
|e επιμελητής
|
| 700 |
1 |
|
|a Hawkins, Charles F.
|9 124398
|e επιμελητής
|
| 852 |
|
|
|a GR-PaULI
|b ΠΑΤΡΑ
|b ΤΜΗΥΠ
|h 621.395 GUL
|t 1
|
| 942 |
|
|
|2 ddc
|c BK
|
