IDDQ testing of VLSI circuits /
Άλλοι συγγραφείς: | Gulati, Ravi K. (επιμελητής), Hawkins, Charles F. (επιμελητής) |
---|---|
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Boston :
Kluwer Academic Publishers,
1997, c1993.
|
Έκδοση: | 5th print. |
Σειρά: | Frontiers in electronic testing
|
Θέματα: |
Παρόμοια τεκμήρια
-
The design and analysis of VLSI circuits /
ανά: Glasser, Lance A.
Έκδοση: (1985) -
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /
ανά: Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950-
Έκδοση: (2000) -
The bounding approach to VLSI circuit simulation /
ανά: Zukowski, Charles A.
Έκδοση: (1986) -
Relaxation techniques for the simulation of VLSI circuits /
ανά: White, Jacob K.
Έκδοση: (1987) -
VLSI test principles and architectures : design for testability /
Έκδοση: (2006)