IDDQ testing of VLSI circuits /

• Other Authors: Gulati, Ravi K. (επιμελητής), Hawkins, Charles F. (επιμελητής)
• Format: Book
• Language: English
• Published: Boston : Kluwer Academic Publishers, 1997, c1993.
• Edition: 5th print.
• Series: Frontiers in electronic testing
• Subjects: Ολοκληρωμένα κυκλώματα > Ολοκλήρωση πολύ μεγάλης κλίμακας