Testing and testable design of high-density random-access memories /

• Main Author: Mazumder, Pinaki (συγγραφέας.)
• Other Authors: Chakraborty, Kanad (συγγραφέας.)
• Format: Book
• Language: English
• Published: Boston, Mass : Kluwer Academic, 1996.
• Series: Frontiers in electronic testing
• Subjects: Μνήμη τυχαίας προσπέλασης
• Physical Description: xxxviii, 386 σ. : εικ. ; 25 εκ.
• Bibliography: Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.
• ISBN: 0792397827