|
|
|
|
LEADER |
01319cam a2200277 a 4500 |
001 |
3052999 |
003 |
GR-PaULI |
005 |
20210826130417.0 |
008 |
960724s1996 maua b 001 0 eng |
952 |
|
|
|0 0
|1 0
|2 ddc
|4 0
|6 621_397000000000000_32_MAZ
|7 0
|8 NFIC
|9 137228
|a LISP
|b LISP
|c BSC
|d 2016-04-24
|i 4808
|l 0
|o 621.397 32 MAZ
|p 025000281789
|r 2016-04-24 00:00:00
|t 1
|v 2016.00
|w 2016-04-24
|y BK15
|x Μεταφορά από Τμ. Μηχανικών ΗΥ & Πληροφορικής
|
999 |
|
|
|c 89861
|d 89861
|
010 |
|
|
|a 96027507
|
020 |
|
|
|a 0792397827
|
040 |
|
|
|a DLC
|c GR-PaULI
|d
|b gre
|e AACR2
|
082 |
0 |
4 |
|a 621.397 32
|2 23
|
100 |
1 |
|
|a Mazumder, Pinaki
|9 124406
|e συγγραφέας.
|
245 |
1 |
0 |
|a Testing and testable design of high-density random-access memories /
|c by Pinaki Mazumder and Kanad Chakraborty.
|
260 |
|
|
|a Boston, Mass :
|b Kluwer Academic,
|c 1996.
|
300 |
|
|
|a xxxviii, 386 σ. :
|b εικ. ;
|c 25 εκ.
|
490 |
1 |
|
|a Frontiers in electronic testing
|
504 |
|
|
|a Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.
|
650 |
|
4 |
|a Μνήμη τυχαίας προσπέλασης
|9 124403
|
700 |
|
|
|a Chakraborty, Kanad
|9 124405
|e συγγραφέας.
|
830 |
|
0 |
|9 187118
|a Frontiers in electronic testing
|
942 |
|
|
|2 ddc
|c BK15
|
998 |
|
|
|c ΜΠΟΥΡΑΣ
|d 2021-08
|