Electron beam testing technology

• Άλλοι συγγραφείς: Thong, John (Επιμελητής έκδοσης)
• Μορφή: Βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: New York Plenum Press c1993
• Σειρά: Microdevices Physics and Fabrication Technologies / Ivor Brodie and Julius J. Muray
• Θέματα: ELECTRON BEAMS; Ημιαγωγοί; ΕΠΕΑΕΚ
• Περιγραφή τεκμηρίου: βιβλιογραφια ανα κεφάλαιο ΕΠΕΑΕΚ/ΙΤΥ
• Φυσική περιγραφή: xvi,462p. fig.
• ISBN: 0 306 44360 0