Electron beam testing technology
Άλλοι συγγραφείς: | Thong, John (Επιμελητής έκδοσης) |
---|---|
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
New York
Plenum Press
c1993
|
Σειρά: | Microdevices Physics and Fabrication Technologies / Ivor Brodie and Julius J. Muray
|
Θέματα: |
Παρόμοια τεκμήρια
-
High Performance Memory New Architecture DRAMs and SRAMs -evolution and function
ανά: Prince, Betty
Έκδοση: (1996) -
Test Economis and design for testability for electronic circuits and systems
ανά: Ambler, A. P., κ.ά.
Έκδοση: (1995) -
Testing semiconductor memories : theory and practice /
ανά: Goor, A. J. van de
Έκδοση: (1991) -
Multichip module design,fabrication, and testing
ανά: Licari, James J.
Έκδοση: (1995) -
Semiconductors and electronic devices
ανά: Lev-Bar, Adir
Έκδοση: (1984)