Electron beam testing technology

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς: Thong, John (Επιμελητής έκδοσης)
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: New York Plenum Press c1993
Σειρά:Microdevices Physics and Fabrication Technologies / Ivor Brodie and Julius J. Muray
Θέματα:

Παρόμοια τεκμήρια