Electron beam testing technology
Άλλοι συγγραφείς: | Thong, John (Επιμελητής έκδοσης) |
---|---|
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
New York
Plenum Press
c1993
|
Σειρά: | Microdevices Physics and Fabrication Technologies / Ivor Brodie and Julius J. Muray
|
Θέματα: |
Παρόμοια τεκμήρια
-
High Performance Memory New Architecture DRAMs and SRAMs -evolution and function
ανά: Prince, Betty
Έκδοση: (1996) -
Test Economis and design for testability for electronic circuits and systems
ανά: Ambler, A. P., κ.ά.
Έκδοση: (1995) -
Multichip module design,fabrication, and testing
ανά: Licari, James J.
Έκδοση: (1995) -
Burn-in testing Its quantitatification and optimization
ανά: Kececioglu, Dimitri, κ.ά.
Έκδοση: (1997) -
Low power design in deep submicron electronics
Έκδοση: (1997)