High-Level Test synthesis of digial VLSI Circuits

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Tien-Chien Lee, Mike (Συγγραφέας)
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Boston Artech House c1997
Θέματα:
LEADER 00864nam a22002533u 4500
001 10105439
003 upatras
005 20210117204156.0
008 991022s eng
020 |a 0 89006 907 7 
040 |a Βιβλιοθήκη ΕΑΙΤΥ  |c Βιβλιοθήκη ΕΑΙΤΥ 
041 0 |a eng 
245 1 0 |a High-Level Test synthesis of digial VLSI Circuits 
260 |a Boston  |b Artech House  |c c1997 
300 |a xi,220p.  |b fig. 
500 |a ΕΠΕΑΕΚ/ΙΤΥ 
650 4 |a INTEGRATED CIRCUITS  |9 24300 
650 4 |a VLSI  |9 24366 
650 4 |a ΕΠΕΑΕΚ  |9 116438 
700 1 |a Tien-Chien Lee, Mike  |4 aut  |9 124568 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΤΜΗΥΠ  |h 621.395 LEE  |t 1 
942 |2 ddc 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 621_395000000000000_LEE  |7 0  |9 137437  |a CEID  |b CEID  |d 2016-04-24  |l 0  |o 621.395 LEE  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 1  |w 2016-04-24 
999 |c 89979  |d 89979